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集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析環(huán)境監測與檢測

簡(jiǎn)要描述：廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析，擁有經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開(kāi)發(fā)團隊，可提供各類(lèi)芯?的測試方案開(kāi)發(fā),測試硬件開(kāi)發(fā),測試程序開(kāi)發(fā)與調試,小批量測試,應?驗證.從?程化到量產(chǎn)的全流程專(zhuān)業(yè)定制化的?站式服務(wù).

廠(chǎng)商性質(zhì)：工程商
更新時(shí)間：2024-03-13
訪(fǎng)問(wèn)次數：432

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詳細介紹

品牌	廣電計量	服務(wù)區域	全國
服務(wù)周期	常規5-7個(gè)工作日	服務(wù)資質(zhì)	CMA/CNAS
服務(wù)費用	視具體項目而定

服務(wù)范圍

廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析服務(wù)范圍：集成電路（微處理器、控制器、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線(xiàn)接?系列、射頻器件、放大器、AD/DA，驅動(dòng)芯片、監控芯片、電源類(lèi)芯片等）

檢測標準

● GJB 597B-2012半導體集成電路通用規范

●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規范

● GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序

● GJB 7400-2011合格制造廠(chǎng)認證用半導體集成電路通用規范

● 行業(yè)規范：MIL、IEEE、JEDEC等

● 客制標準：產(chǎn)品?冊、詳細規范、測試方案

檢測項目

FT工程化	測試方案開(kāi)發(fā)與測試平臺選型；測試程序開(kāi)發(fā)：V93000、Ultraflex、J750HD、STS系列、magnum等測試硬件設計：loadboard、changkit、socket、PCB ?程化驗證與特性參數分析
FT量產(chǎn)	?次篩選小批量量產(chǎn) 量產(chǎn)維護與良率提升
應用驗證	項目驗收測試板級應用測試

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

集成電路測試卡位產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)鍵節點(diǎn)，貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過(guò)程。測試在保證芯片質(zhì)量，產(chǎn)品交付、項目驗收及推向應?具有重要作?。而芯片設計多樣化和定制化，對測試人才和技術(shù)經(jīng)驗要求明顯提升，如何實(shí)現快速?程化和量產(chǎn)將?臨極?挑戰。

我們的優(yōu)勢

廣電計量集成電路工程化量產(chǎn)測試,失效機理分析服務(wù)擁有一支經(jīng)驗豐富的IC測試技術(shù)開(kāi)發(fā)團隊，可提供各類(lèi)芯片的測試方案開(kāi)發(fā)、測試硬件開(kāi)發(fā)、測試程序開(kāi)發(fā)與調試，小批量測試、應?驗證。從?程化到量產(chǎn)的全流程專(zhuān)業(yè)定制化的?站式服務(wù)。

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