服務(wù)范圍

廣電計量軌道交通電子元器件失效分析服務(wù)范圍：IGBT、IC集成電路、微機電器件

檢測標準

廣電計量軌道交通電子元器件失效分析檢測標準：GJB548微電子器件試驗方法和程序

檢測項目

（1）常見(jiàn)檢測項?：3DX 射線(xiàn)檢查、聲學(xué)掃描檢查、開(kāi)封、IC 取芯片、芯片去層、襯底檢查、掃描電鏡檢查、PN結染?、DB FIB、熱點(diǎn)檢測、漏電位置檢測、彈坑檢測、粗細撿漏、ESD 測試

（2）常見(jiàn)失效模式分析：靜電損傷、過(guò)電損傷、鍵合異常、封裝異常、散熱異常、電參數漂移

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

隨著(zhù)動(dòng)車(chē)及高速列車(chē)電控性能的提升，其使用的電子元器件占比越來(lái)越高。一方面，為保證動(dòng)車(chē)及高速列車(chē)的運行可靠性，需要對所使用的電子元器件進(jìn)行充分的性能摸底，以熟悉產(chǎn)品性能及預期壽命。另一方面，列車(chē)運行過(guò)程中一旦出現電子元器件失效，將可造成災難性的損失；而為滿(mǎn)足電子元器件高功率、高負載、高性能的要求，列車(chē)上多使用進(jìn)口集成電路芯片，因檢測手段匱乏、分析方法空白，其失效問(wèn)題常常受制于國外供應商。

我們的優(yōu)勢

廣電計量通過(guò)與華為、海思等國內集成電路芯片廠(chǎng)的深度合作，不斷提高自身芯片類(lèi)檢測硬件實(shí)力及分析軟件實(shí)力。具備分析芯片14nm及以上工藝能力，同時(shí)可以將問(wèn)題鎖定在具體芯片層或者um范圍內。