服務(wù)內容

錫須現象檢測 材料裝備失效分析：廣電計量錫須檢查檢測項目包括：生長(cháng)速率、延展性、低熔點(diǎn)、可靠性、材料檢測、材料檢測、缺陷試驗、外觀(guān)檢測、環(huán)境試驗、數量估計、安全性檢測、潛在危險性、性狀、應力影響率、措施有效性、錫須密度等。

服務(wù)范圍

電子元件、汽車(chē)電子、醫療、通訊、手機、電腦、電器等PCBA部件。

參照標準

IEC 60068-2-82-2009環(huán)境試驗第2-82部分：電子和電氣元件晶須試驗方法等。更多及最新標準請聯(lián)系客服。

測試周期

3到7個(gè)工作日  可提供特急服務(wù)

檢測資質(zhì)

CNAS認可

服務(wù)背景

錫須現象檢測 材料裝備失效分析：錫須是一種在純錫或錫合金鍍層表面自發(fā)生長(cháng)的細長(cháng)錫晶體。在電子電路中，錫須會(huì )引起短路，降低電子器件的可靠性，甚至導致電子器件的失效或失效。由于錫晶須通常在電鍍幾年甚至幾十年后才開(kāi)始生長(cháng)，這將對產(chǎn)品的可靠性造成很大的潛在危害。

從環(huán)境保護和人類(lèi)健康的角度出發(fā)，中國、日本、歐盟、美國等國家或地區相繼出臺相關(guān)法律法規或法令，明確限制或禁止在電子電氣設備中使用鉛，使電子產(chǎn)品無(wú)鉛化。電子工業(yè)無(wú)鉛化的趨勢意味著(zhù)電子工業(yè)中應用廣泛的Sn-Pb焊料將成為歷史。同時(shí)，廣泛使用的錫鉛焊料也將被新的金屬或合金所取代。純Sn、Sn-Bi、Sn-Ag-Cu作為一種可能的替代物，存在著(zhù)錫晶須自發(fā)生長(cháng)的潛在問(wèn)題。

我們的優(yōu)勢

1、服務(wù)覆蓋全國：廣電計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測機構，技術(shù)服務(wù)保障網(wǎng)絡(luò )覆蓋全國。

2、資源配置完善：廣電計量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界專(zhuān)業(yè)的專(zhuān)家團隊及先進(jìn)的失效分析系統設備。提供定制化服務(wù)：憑借齊全的檢測能力和多行業(yè)豐富的服務(wù)經(jīng)驗，廣電計量可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應?下的失效分析咨詢(xún)、協(xié)助客戶(hù)開(kāi)展實(shí)驗規劃、以及分析測試服務(wù)，如配合客戶(hù)開(kāi)展NPI階段驗證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶(hù)完成批次性失效分析。