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超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試失效分析材料檢測服務(wù)

簡(jiǎn)要描述：超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試失效分析：超?規模集成電路測試是確定或評估?規模集成電路的功能和電性能的過(guò)程，是驗證設計、監控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。

廠(chǎng)商性質(zhì)：工程商
更新時(shí)間：2024-03-14
訪(fǎng)問(wèn)次數：442

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相關(guān)文章

詳細介紹

品牌	廣電計量	服務(wù)區域	全國
服務(wù)資質(zhì)	CNAS認可	加急服務(wù)	可提供
發(fā)票	可提供	報告類(lèi)型	中英文電子/紙質(zhì)報告

服務(wù)范圍

超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試失效分析：處理器、存儲器、AD/DA、接?芯片等?規模集成電路、適用于各種封裝（DIP、SOP、BGA、PGA、QFP、PLCC、LCC等）。

檢測標準

l GJB597A-1996半導體集成電路總規范

l GJB2438A-2002混合集成電路通?規范

l GJB548B-2005微電子器件試驗?法和程序

l GJB7243-2011J用電子元器件篩選技術(shù)要求

l AEC-Q100 STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS

l MIT-STD-883E TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS

l JESD22-A108-A Temperature, Bias, and Operating Life

檢測項目

試驗設備	設備能?
超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉	系統分區：16 區； I/O通道數：128 路；信號頻率：100MHz；向量編程深度：32M；試驗溫度：-10℃?+125℃(±2℃)。
超大規模集成電路測試	能進(jìn)?動(dòng)態(tài)功能測試、直流參數測試、交流參數測試；能進(jìn)?常溫測試、低溫測試、?溫測試，溫度范圍：-55℃?+150℃ (±2℃)；I/O通道數：512路；信號頻率：≥200MHz；可升級；向量編程深度：64M。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

超大規模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試失效分析：在半導體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，行業(yè)引入了?量新材料、新?藝和新的器件結構，導致集成電路更高的缺陷密度，動(dòng)態(tài)老煉與測試是保證及提高其可靠性和質(zhì)量?致性的關(guān)鍵?法。

我們的優(yōu)勢

l 通過(guò)對大規模集成電路施加特定測試向量（有效測試向量），激勵內在缺陷和錯誤形成響應，并通過(guò)電應力和熱應力的加速，在短時(shí)間內讓不良品表現出失效現象，并通過(guò)測試?段予以剔除，以達到提高?規模集成電路使?可靠性的?的。

l 超?規模集成電路測試是確定或評估?規模集成電路的功能和電性能的過(guò)程，是驗證設計、監控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導應?的重要?段。特別在集成電路?產(chǎn)后期和使?前期不良率驗證過(guò)程中，采?適當的測試向量和全?動(dòng)化的測試設備，可全?快速地識別不良產(chǎn)品，提?產(chǎn)品的交付可靠性。

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