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5G通信 IC芯片開(kāi)封試驗：廣電計量IC芯片開(kāi)封試驗主要是切開(kāi)剖面觀(guān)察金絲情況，及金球情況，表面鋁線(xiàn)是否受傷，芯片是否有裂縫，光刻是否不良,是否中測，芯片名是否與布線(xiàn)圖芯片名相符。

功率器件失效分析 電力電子器件：功率器件可靠性是器件廠(chǎng)商和應用方除性能參數外較為關(guān)注的，也是特性參數測試無(wú)法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量擁有業(yè)界的專(zhuān)家團隊及先進(jìn)的失效分析設備，專(zhuān)注功率器件失效根因分析，可為客戶(hù)提供完整的失效根因分析服務(wù)。

第三代半導體器件全參數測試 電力電子器件:廣電計量專(zhuān)家團隊深入解讀IGBT測試相關(guān)標準，建立功率模塊可靠性驗證技術(shù)能力，可以為功率半導體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供具有專(zhuān)業(yè)性的IGBT及第三代半導體器件全參數測試驗證報告。

AQG324認證服務(wù) LV324汽車(chē)電子元器件測試：是ECPE相關(guān)工作組基于LV324測試標準，為汽車(chē)電力電子轉換單元(PCUs)用功率模塊推出的認證指南。其中包含QM模塊測試部分，QC模塊特性測試部分，QE環(huán)境可靠性部分，QL壽命試驗部分，AQG324制定了完善的車(chē)規級功率模塊的可靠性試驗流程，可以有效驗證產(chǎn)品可靠性，指導廠(chǎng)商更深入了解其產(chǎn)品可靠性能，從而加快產(chǎn)品開(kāi)發(fā)速度，優(yōu)化工藝流程。

汽車(chē)電子無(wú)鉛工藝質(zhì)量評價(jià)：廣電計量的專(zhuān)業(yè)團隊具備10多年失效分析經(jīng)驗支撐，可提供vw80000系列、ES90000系列等整車(chē)廠(chǎng)的汽車(chē)電子無(wú)鉛工藝質(zhì)量評價(jià)，幫助企業(yè)發(fā)現潛在質(zhì)量缺陷、控制產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險。

汽車(chē)內外飾、線(xiàn)束端子類(lèi)質(zhì)量評價(jià)分析:廣電計量具備專(zhuān)業(yè)的汽車(chē)內外飾鍍層質(zhì)量評價(jià)，線(xiàn)束端子類(lèi)質(zhì)量評價(jià)技術(shù)團隊，幫助企業(yè)發(fā)現潛在質(zhì)量缺陷、控制產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險。

汽車(chē)功率器件耐久性試驗：功率半導體器件是新能源、軌道交通、電動(dòng)汽車(chē)、工業(yè)應用和家用電器等應用的核心部件。特別是隨著(zhù)新能源電動(dòng)汽車(chē)的高速發(fā)展，功率半導體器件的市場(chǎng)更是爆發(fā)式的增長(cháng)，區別于消費電子市場(chǎng)，車(chē)規級功率半導體器件由于高工作結溫、高功率密度、高開(kāi)關(guān)頻率的特性，和更加惡劣的使用環(huán)境，使得器件的可靠性顯得尤為重要。

AEC-Q104認證測試,汽車(chē)零部件車(chē)規級認證：廣電計量AEC-Q104測試能力提供全套的測試認證服務(wù)，通過(guò)使用各種測試分析技術(shù)和分析程序確認產(chǎn)品的失效現象，分辨其失效模式或機理，確定其最終原因，提出改進(jìn)設計和制造工藝的建議，來(lái)消除失效并防止失效的再次發(fā)生，提高產(chǎn)品的可靠性。