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廣電計量可以提供一站式國產(chǎn)化替代驗證服務(wù)解決方案專(zhuān)業(yè)服務(wù)，針對元器件用戶(hù)具體的應用環(huán)境和條件等需求調研和分析，結合現實(shí)和潛在應用要求，進(jìn)行驗證方案和大綱制定，驗證評價(jià)，驗證報告和驗證指南編制等全流程服務(wù)。

廣電計量半導體功率器件質(zhì)量提升,失效分析解決方案經(jīng)過(guò)在功率半導體器件方面數年積累，擁有先進(jìn)研究進(jìn)展,研究設備，為客戶(hù)提供半導體功率器件質(zhì)量提升服務(wù)。

第三代半導體作為一種理想的半導體材料，在新一代信息技術(shù)、新基建等領(lǐng)域得到了愈發(fā)廣泛的應用。對于國內企業(yè)而言，要獲取市場(chǎng)信任，檢測是證明第三代半導體質(zhì)量與可靠性的可行手段，同時(shí)也是提高其質(zhì)量可靠性的重要保障。廣電計量特意推出第三代半導體可靠性驗證與評價(jià)服務(wù)，助力企業(yè)產(chǎn)品高效發(fā)展。

廣電計量提供半導體材料微結構分析與評價(jià)服務(wù),提供半導體材料元素成分分析,結構分析,微觀(guān)形貌分析測試服務(wù)，CNAS資質(zhì)認可,幫助客戶(hù)全面了解半導體材料理化特性.

廣電計量車(chē)規電子元器件AEC-Q全系認證服務(wù)建成并具備了覆蓋AEC-Q100、101、102、104、200全套認證測試能力，有利地支撐國產(chǎn)電子元器件的設計、制造、終端應用過(guò)程中的產(chǎn)品分析測試需求。

雙束掃描電子顯微鏡（DB-FIB）是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上，再加裝氣體注入系統（GIS）和納米機械手等配件，從而實(shí)現刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計量能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測,材料微觀(guān)分析服務(wù)。

電子元器件失效分析經(jīng)常用到的檢查分析方法簡(jiǎn)單可以歸類(lèi)為無(wú)損分析、有損分析。有損分析就是對器件進(jìn)行各種微觀(guān)解剖分析，其首要要求就是在避免人為損傷的前提下，展現內部缺陷形貌。離子研磨（CP）測試是切片制樣技術(shù)常用到的先進(jìn)輔助技術(shù)。廣電計量提供離子研磨測試,材料CP檢測服務(wù)。

材料及其制品都是一在一定溫度環(huán)境下使用的，在使用過(guò)程中，將對不同的溫度做出反應，表現出不同的熱物理性能，即為材料的熱血性能。材料的熱學(xué)性能主要包括熱容、熱膨脹、熱傳導、熱穩定性等。廣電計量可針對性研究材料樣品性質(zhì)與溫度間關(guān)系，提供材料?致性評價(jià)及熱力學(xué)分析服務(wù)。