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  • 電纜可靠性測試與鑒定,設備專(zhuān)業(yè)失效分析 安全檢測服務(wù)
    電纜可靠性測試與鑒定,設備專(zhuān)業(yè)失效分析 安全檢測服務(wù)

    電纜可靠性測試與鑒定,設備專(zhuān)業(yè)失效分析:廣電計量在電線(xiàn)電纜測試與鑒定方面具有深厚的積累,可提供電線(xiàn)電纜的一站式測試與鑒定服務(wù)。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:450
  • 電源模塊老煉與測試驗證轉裝備失效分析 安全檢測服務(wù)
    電源模塊老煉與測試驗證轉裝備失效分析 安全檢測服務(wù)

    電源模塊老煉與測試驗證轉裝備失效分析:廣電計量電源模塊老煉與測試驗證適應于交直流電源、模塊電源、醫療電源等各類(lèi)電源產(chǎn)品的測試。電源模塊老煉試驗通過(guò)對電源模塊施加電應力和熱應力,在短時(shí)間內讓不良品表現出失效現象,以達到提高電源模塊使用可靠性的目的。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:391
  • 電子元器件篩選,失效分析 材料檢測服務(wù)
    電子元器件篩選,失效分析 材料檢測服務(wù)

    電子元器件篩選,失效分析:廣電計量可滿(mǎn)足各等級元器件篩選方案設計和檢測需求,提供電子元器件測試、評估、質(zhì)量保證的成套方案,幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備可靠性提升。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:429
  • X-ray元器件無(wú)損檢測失效分析 材料檢測服務(wù)
    X-ray元器件無(wú)損檢測失效分析 材料檢測服務(wù)

    X-ray元器件無(wú)損檢測失效分析:X-ray檢測是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測方式,目前廣泛應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計量可針對對金屬材料及零部件、電子元器件、電纜,裝具,塑料件等進(jìn)行X-ray無(wú)損檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:379
  • 焊點(diǎn)質(zhì)量檢測,專(zhuān)業(yè)元器件分析第三方
    焊點(diǎn)質(zhì)量檢測,專(zhuān)業(yè)元器件分析第三方

    焊點(diǎn)質(zhì)量檢測,專(zhuān)業(yè)元器件分析第三方:廣電計量擁完整的剪切力拉力試驗設備、X射線(xiàn)透視(xray)試驗設備,并擁有完整的染色測試方法經(jīng)驗與豐富的分析人才,能夠高效準確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:384
  • 離子清潔度測試 專(zhuān)業(yè)元器件失效分析
    離子清潔度測試 專(zhuān)業(yè)元器件失效分析

    離子清潔度測試 專(zhuān)業(yè)元器件失效分析:離子清潔度通常是指線(xiàn)路板的離子清潔度,由于印刷線(xiàn)路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留,會(huì )影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結晶生長(cháng),最終引起了短路,過(guò)多的電流通過(guò)連接器,造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計量能提供離子清潔度檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:355
  • 錫須現象檢測 材料裝備失效分析
    錫須現象檢測 材料裝備失效分析

    錫須現象檢測 材料裝備失效分析:錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(cháng)出來(lái)的一種細長(cháng)的錫單晶,錫須的存在可能導致電器短路、弧光放電,以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計量擁有完整的錫須檢查試驗設備,經(jīng)驗豐富的分析人才,能夠高效準確的提供錫須檢查測試服務(wù)。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:372
  • 超聲波顯微鏡 (SAT)C-SAM,材料無(wú)損檢測
    超聲波顯微鏡 (SAT)C-SAM,材料無(wú)損檢測

    超超聲波顯微鏡 (SAT)C-SAM,材料無(wú)損檢測:聲波顯微鏡 (SAT)是Scanning Acoustic Tomography 的簡(jiǎn)稱(chēng),又稱(chēng)為C-SAM (C-mode Scanning Acoustic Microscope)。此檢測為應用超聲波與不同密度材料的反射速率及能量不同的特性來(lái)進(jìn)行分析。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:507
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