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  • X-ray元器件無(wú)損檢測失效分析 材料檢測服務(wù)
    X-ray元器件無(wú)損檢測失效分析 材料檢測服務(wù)

    X-ray元器件無(wú)損檢測失效分析:X-ray檢測是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測方式,目前廣泛應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計量可針對對金屬材料及零部件、電子元器件、電纜,裝具,塑料件等進(jìn)行X-ray無(wú)損檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:361
  • 焊點(diǎn)質(zhì)量檢測,專(zhuān)業(yè)元器件分析第三方
    焊點(diǎn)質(zhì)量檢測,專(zhuān)業(yè)元器件分析第三方

    焊點(diǎn)質(zhì)量檢測,專(zhuān)業(yè)元器件分析第三方:廣電計量擁完整的剪切力拉力試驗設備、X射線(xiàn)透視(xray)試驗設備,并擁有完整的染色測試方法經(jīng)驗與豐富的分析人才,能夠高效準確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:364
  • 離子清潔度測試 專(zhuān)業(yè)元器件失效分析
    離子清潔度測試 專(zhuān)業(yè)元器件失效分析

    離子清潔度測試 專(zhuān)業(yè)元器件失效分析:離子清潔度通常是指線(xiàn)路板的離子清潔度,由于印刷線(xiàn)路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留,會(huì )影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結晶生長(cháng),最終引起了短路,過(guò)多的電流通過(guò)連接器,造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計量能提供離子清潔度檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:341
  • 錫須現象檢測 材料裝備失效分析
    錫須現象檢測 材料裝備失效分析

    錫須現象檢測 材料裝備失效分析:錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(cháng)出來(lái)的一種細長(cháng)的錫單晶,錫須的存在可能導致電器短路、弧光放電,以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計量擁有完整的錫須檢查試驗設備,經(jīng)驗豐富的分析人才,能夠高效準確的提供錫須檢查測試服務(wù)。

    更新時(shí)間:2024-03-14訪(fǎng)問(wèn)量:350
  • X-ray無(wú)損檢測,元器件失效根源分析
    X-ray無(wú)損檢測,元器件失效根源分析

    X-ray無(wú)損檢測,元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測方式,目前廣泛應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計量可針對對金屬材料及零部件、電子元器件、電纜,裝具,塑料件等進(jìn)行X-ray無(wú)損檢測。

    更新時(shí)間:2024-03-13訪(fǎng)問(wèn)量:356
  • 氟油液態(tài)溫度沖擊認證試驗
    氟油液態(tài)溫度沖擊認證試驗

    廣電計量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認證試驗經(jīng)驗,可開(kāi)展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗,轉換時(shí)間不超過(guò)10s,溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、GB等標準。

    更新時(shí)間:2024-03-13訪(fǎng)問(wèn)量:377
  • 錫須檢查,元器件及裝備失效分析
    錫須檢查,元器件及裝備失效分析

    錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(cháng)出來(lái)的一種細長(cháng)的錫單晶,錫須的存在可能導致電器短路、弧光放電,以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計量錫須檢查,元器件及裝備失效分析服務(wù)擁有完整的錫須檢查試驗設備,經(jīng)驗豐富的分析人才,能夠高效準確的提供錫須檢查測試服務(wù)。

    更新時(shí)間:2024-03-13訪(fǎng)問(wèn)量:387
  • 離子清潔度測試,裝備失效分析檢驗
    離子清潔度測試,裝備失效分析檢驗

    離子清潔度通常是指線(xiàn)路板的離子清潔度,由于印刷線(xiàn)路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留,會(huì )影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結晶生長(cháng),最終引起了短路,過(guò)多的電流通過(guò)連接器,造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計量能提供離子清潔度測試,裝備失效分析檢驗服務(wù)。

    更新時(shí)間:2024-03-13訪(fǎng)問(wèn)量:383
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